本章將專門介紹這些基本可靠性試驗。
基礎(chǔ)試驗的重要性
電子元器件的常用可靠性試驗。那些試驗是為完成特定的目的而設(shè)置 的，它由一系列通用的基本試驗單元——可靠性基礎(chǔ)試驗組成的，如第2章所述的例行試 驗是由振動疲勞試驗、沖擊試驗、離心力試驗、卨低溫溫度試驗、多余物檢查試驗等組成 的。我們把組成各種可靠性試驗的最基本的試驗叫做可靠性基礎(chǔ)試驗，如高溫試驗，振動 掃頻試驗等，它們是獨(dú)立的試驗，它們的不同組合可構(gòu)成不同的可靠性試驗，可組成第2 聿所述的電子元器件不同的常用可靠性試驗。因此，可靠性基礎(chǔ)試驗的結(jié)果直接影響電 子元器件的可靠性試驗的結(jié)果。所以，這些通用的可靠性基礎(chǔ)試驗是做好第2聿的電子 元器件常用的可靠性試驗的重要保證。
另一方面，電子元器件研制過程中，往往必須經(jīng)常獨(dú)立做某些通用的可靠性基礎(chǔ)試 驗。如密封元器件必須做檢漏試驗、粒子噪聲多余物檢測試驗等;車載產(chǎn)品必須做振動疲 勞試驗、隨機(jī)振動試驗、掃頻試驗等;當(dāng)然電子元器件的性能測試必須在一定環(huán)境下進(jìn)行 一定的電學(xué)量的測量試驗。所以這些通用的可靠性基礎(chǔ)試驗是電子元器件基本性能的主 要檢測手段。因此必須熟練地掌握這些通用的可靠性基礎(chǔ)試驗。