紫外線老化箱/紫外線試驗(yàn)機(jī)的擊穿測(cè)試
 
紫外線老化箱/紫外線試驗(yàn)機(jī)為識(shí)別電介質(zhì)強(qiáng)度的變化，進(jìn)行了一系列交流斜坡?lián)舸y(cè)試，測(cè)試設(shè)備為交流擊穿成套裝備（頻率50Hz，斜坡升壓50V/s，符合ASTM D419標(biāo)準(zhǔn)）。對(duì)于每種材料總共選取30個(gè)擊穿樣品以滿足統(tǒng)計(jì)規(guī)律。測(cè)試單元用硅油做介質(zhì)以防止樣品的閃絡(luò)。使用的電極為6.3mm不銹鋼球并每5次擊穿更換一次電極以防止電極破壞。
 
 
交流斜坡速率的線性度也是每5個(gè)樣品擊穿確認(rèn)一次。需要注意的是，由于不存在完全均勻的介質(zhì)，特別是高聚物的聚集形態(tài)非常復(fù)雜，擊穿規(guī)律往往呈統(tǒng)計(jì)分布，而各類老化產(chǎn)生的樹枝化現(xiàn)象，也說(shuō)明了擊穿的隨機(jī)性。因此，研究固體電介質(zhì)的擊穿特性時(shí)，需認(rèn)識(shí)到擊穿損傷過(guò)程及其隨機(jī)性。其工頻擊穿場(chǎng)強(qiáng)往往不是一個(gè)確定值，而是在一定的范圍內(nèi)變化，而這個(gè)變化范圍會(huì)受到很多外界因素的影響。
 
 
紫外線老化箱/紫外線試驗(yàn)機(jī)在對(duì)電介質(zhì)擊穿特性的研究上，國(guó)內(nèi)外普遍采用統(tǒng)計(jì)分析的方法程度的減小誤差。兩參數(shù)的威布爾（Weibull）分布被IEC推薦用于表征固體絕緣的破壞。在交流或直流電壓下若某一固體絕緣的破壞概率用雙參數(shù)Weibull分布表示，則它的累計(jì)破壞概率 ) (x F ：] ) /( exp[ 1 ) (βα x x F − − =   （5.1）式中，x為樣本的特征擊穿場(chǎng)強(qiáng)，α是尺度參數(shù)，表示累計(jì)破壞概率為63.2%時(shí)的擊穿強(qiáng)度，也叫Weibull擊穿強(qiáng)度；β為表征數(shù)據(jù)分散程度的形狀因子，其值越大說(shuō)明分散越窄。擊穿電壓數(shù)據(jù)是通過(guò)2參數(shù)的威布爾分布，運(yùn)用59 MATLAB軟件的wblfit(data)函數(shù)工具箱進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，采用似然置信范圍。
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